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如何提高二次元測量儀的測量精度
更新時間:2020-04-14   點擊次數:2217次
  如何提高角度測量精度,一直以來是二次元測量儀器難以攻克的難關。現在市場上流行的二次元測量儀器關于角度測量的方法基本有兩種,一種是切線法,一種是采點計算法。切線法是指人工旋轉屏幕上或者鏡頭內刻線,分別對準工件兩條邊線,通過編碼器或者圓光柵計數來測量角度的方法。這種方法又分為兩種,投影切線法,如投影儀,工具顯微鏡等,和影像切線法,如影像儀,帶視頻功能的工具顯微鏡,依靠軟件自帶的米字線旋轉測量。
  切線法操作方便簡單,但是測量精讀低,適合快速批量檢測,如果被測件角度精讀要求較高,另一種方法,采點計算法就比較適合。所有的幾何元素都是有點組成的,包括基本元素直線,曲線和圓弧。二維平面角度由基本幾何元素兩條直線組成,直線由無數的點組成。所以角度測量準確與否,采點是關鍵的。
  二次元影像測量儀,由于屏幕顯示有限,加上放大倍率較大(一般在0.7檔~4.5檔34X~220X),屏幕顯示部分的工件尺寸實際只有幾毫米,很多測量人員在檢測的時候習慣只在屏幕顯示部分上采集點、線元素。如果采集的點有偏差,所采線段越短,那么所測得的角度值偏差就會越大,線段越長,測得角度值偏差就會越小。所以我們在測量角度的時候,盡量將角度兩邊的線采集長些,如果屏幕顯示范圍太小,可以移動工作臺,在角度所在直線的起點位置附件采一點,然后在終點位置采一點,這樣所測角度誤差將會大大減小。

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